Hitest hat von Beginn an auf automatische Testsysteme des Herstellers Verigy (vormals Agilent/Hewlett Packard) gesetzt. Alle Geräte zeichnen sich durch hervorragende Eigenschaften in Bezug auf Genauigkeit und Bedienbarkeit aus. Die meisten Hauptsysteme sind doppelt vorhanden, so dass wir bei unvorhergesehenen Ereignissen, wie Störungen oder Änderungen der Bauteilemengen, schnell reagieren können.

• System 1: Agilent 93000

        144 Digitalkanäle mit 500 MHz Datenrate,
        Mixed Signal Erweiterungen, Testkopf mit Manipulator

• System 2: HP83000 F330t

        160 Digitalkanäle mit 330 MHz Datenrate,
        Mixed Signal Erweiterungen, Testkopf mit Manipulator

• System 3: HP83000 F330t

        128 Digitalkanäle mit 330 MHz Datenrate, Testkopf mit Manipulator

• System 4: HP83000 F330t

        96 Digitalkanäle mit 330 MHz Datenrate, Mixed Signal Erweiterungen,
        Testkopf mit Manipulator

• System 5: HP83000 F660i

         256 Digitalkanäle mit 660 MHz Datenrate, +/- 50 ps Genauigkeit

• System 6: HP83000 F660i

         256 Digitalkanäle mit 660 MHz Datenrate, +/- 50 ps Genauigkeit

• System 7: E8400 VXI Mainframe

        konfigurierbar für die Steuerung von projektspezifischen Testaufbauten

• System 8: Hitest Minitester

        transportables System für den automatischen Test bei Bestrahlungen

Bei den Handling- und Probingsystemen setzt Hitest auf die Marktführer:

• Waferprober von 3“ bis 8“

        Wentworth, KLA, TSK
        im Temperaturbereich von 0° C bis 150° C

• Handlingsysteme von 5x5 mm bis 28x28 mm, QFN, BGA, QFP, LCC, DIL, SO, TSOP

        Advantest (Pick and Place), Multitest und Microhandling (Gravity)        
        im Temperaturbereich von -40° C bis 200° C