Hitest GmbH
Testhaus für Mikroelektronik und Hochfrequenz-Komponenten

Garbsener Landstr. 10
D-30419 Hannover

Telefon: +49-511-277-1313
Fax: +49-511-277-2345
E-Mail: info@hitest.de

Elektrische Tests

 

Wafertest

 

Tests von Wafern dienen zur Kontrolle der Produktion. Durch funktionale und parametrische Tests wird jede einzelne Komponente geprüft. Dabei werden Signale bis 50 GHz verarbeitet.

Wir testen digitale, analoge und Mixed Signal-Wafer in Größen von 3" bis 8" bei Temperaturen von 0° C bis 150° C unter Reinraumbedingungen (Klasse 10000 oder 1000) vollautomatisch mit Probingsystemen von TSK, KLA oder Wentworth. Zur Erhöhung des Waferdurchsatzes können wir vom Single-Site-Test zum Multi-Site-Test mit bis zu acht parallel getesteten Komponenten wechseln.

Nach dem Test werden die Ergebnisse entweder dazu benutzt, defekte Komponenten zu markieren, oder Wafermaps für die weitere Produktion zu erzeugen.

 

Test von gehäusten Bauelementen

 

Obwohl die Produktionstechnologie der Bauteilgehäuse immer besser wird, ist ein Test der gehäusten Bauelemente immer noch unerlässlich. Hierbei wird zum einen der Verpackungsprozess selbst überprüft. Zum anderen werden alle Parameter kontrolliert, die vom Gehäuse beeinflusst werden. Dazu gehören insbesondere die Hochfrequenzeigenschaften.

Hitest prüft mit Hilfe von Handlingsystemen oder, bei kleinen Stückzahlen, mit manuellem Handling Komponenten in verschiedensten Gehäuseformen bei Temperaturen von -85° C bis 200° C (manuell -195° C bis +300° C). Die automatischen Tests laufen als Single-Site-Test oder als Dual-Site-Test.

Mögliche Gehäuseformen beim automatischen Handling sind QFP, QFN, BGA, PLCC, CLCC, SOP, DIL, ... Die Gehäusegrößen liegen im Bereich von 7x7 mm bis 28x28 mm, die Anzahl der Pins liegt zwischen 3 und 500.

Beim manuellen Handling kommen noch Gehäuse für diskrete Komponenten hinzu.

Je nach Ergebnis des Tests werden die Komponenten in "Pass" und "Fail" klassifiziert oder auf Wunsch in verschiedene Leistungsklassen sortiert.

 

 

Auswertung der Testergebnisse

 
Mit den Ergebnissen der elektrischen Tests führen wir verschiedene statistische Auswertungen durch.

Mögliche Methoden sind dabei:

  • Datenlogs
  • Statistiken
  • Histogramme 
  • Shmoo Plots
  • Delta-Kalkuationen

Ziel dieser Auswertungen sind beispielsweise die Optimierungen der Tests oder die Beobachtung der Stabilität von Herstellungsprozessen. Bei Qualifikationen können dadurch Alterungseffekte sofort sichtbar gemacht werden.